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涂鍍層測量儀MMS PC2，搭載 Windows™ CE 操作系統，是適用于高精度涂鍍層厚度測量與材料測試的理想解決方案。設備通過插卡實現模塊化設計，能實現與同名手持式儀器相同的功能。為較大程度地提高適用性，可從豐富的探頭種類中選擇相應的探頭，以定量測量樣品的各種屬性和規格，如涂鍍層厚度、導電性以及鐵素體含量等。

XAN涂鍍層測厚儀特別適合測量和分析超薄鍍層，即使鍍層成分復雜或含量微小也都能準確測量。該系列產品簡單易用且性價比高，因此在同類產品中脫穎而出。

XDV-µ涂鍍層厚度測量儀是專為在極微小結構上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達10至60µm。短時間內就可形成高強度聚焦射線。除了通用型XDV-µ型儀器，還有專門為電子和半導體行業而設計的儀器。如XDV-µ LD是專為測量線路板而優化的，而XDV-µ

FISCHER通過GOLDSCOPE涂鍍層厚度測量儀系列儀器，為無損的黃金和貴金屬測試提供定制化解決方案。這些耐用的X射線熒光儀器，其軟硬件均為珠寶黃金行業而設計。專注于重要的功能，在控制成本的同時仍只采用廣受認可、高質量的組件。

TIME2501覆層測厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行磁性金屬基體上的非磁性（鋅鋁鉻銅橡膠油漆等）覆蓋層厚度的測量。本儀器符合下列有關標準：GB/T4956-2003磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法 可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。

TIME®2113超聲波測厚儀測量厚度的原理與光波測量原理相似。探頭發射的超聲波脈沖到達被測物體并在物體中傳播，到達材料分界面時被反射回探頭，通過精*測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。該機可實現0.01mm的高分辨力。 測厚儀采用超聲波測量原理，適用于能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測量。此儀器可對各種板材和各種加工零。