氧化膜渦流測厚儀TT230

產品概述：

氧化膜渦流測厚儀TT230是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量。

氧化膜渦流測厚儀TT230可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域；

該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。

符合以下標準：

GB/T 4957-1985 渦流方法；JJG 818-93 《電渦流式測厚儀》；JB/T8393-1996磁性和渦流覆層測厚儀；

功能特點：

采用了渦流測厚法，可無損傷地測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度（如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層）；

可進行零點校準及二點校準，并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正；

具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；

具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）；

具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據；

設有五個統計量：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差；

具有米、英制轉換功能；

具有打印功能，可打印測量值、統計值；

具有欠壓指示功能；

操作過程有蜂鳴聲提示；

具有錯誤提示功能；

具有自動關機功能；

技術參數：

測頭類型：N；

測量原理：電渦流；

測量范圍： 0-1250um | 0-40um（銅上鍍鉻） ；

低限分辨力：1µm（10um以下為0.1um）；

探頭連接方式：一體化；

示值誤差： 一點校準（um）：±[3%H+1.5]；

兩點校準（um）：±[（1%~3%）H+1.5]；

測量條件： zui小曲率半徑（mm）：凸3 | 凹10；

基體zui小面積的直徑（mm）：ф5；

zui小臨界厚度（mm）：0.3；

溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH；

統計功能：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差；

工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）；

測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；

上下限設置：無；

存儲能力：15個測量值；

打印/連接計算機：可選配打印機/能連接電腦；

關機方式：自動；

電源：二節3.6V鎳鎘電池；

外形尺寸：150×55.5×23mm；

重量：150g；

基本配置

主機；

鋁基體；

標準片一套；

充電器；

使用說明書；

合格證書。

氧化膜渦流測厚儀TT230

氧化膜渦流測厚儀TT230

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